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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱(chēng)：
半導(dǎo)體封裝材料小型探針臺(tái)I-V測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
所在地：北京市
更新日期：2024-11-02
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
半導(dǎo)體封裝材料小型探針臺(tái)I-V測(cè)試系統(tǒng)，小型探針臺(tái)最大可用于6英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試 ；可滿(mǎn)足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測(cè) |
|---|
Huace-4S小型探針臺(tái)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），精準(zhǔn)扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線(xiàn)與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通，通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)及應(yīng)用：
◆ 滿(mǎn)足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等；
◆ 可用于6英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試；
◆ 同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線(xiàn)性移動(dòng)；
◆ 可放置于手套箱內(nèi)使用；
◆ 形狀輕巧，操作方便，價(jià)格實(shí)惠。
Huace-4S小型探針臺(tái)技術(shù)參數(shù)：
臺(tái)體規(guī)格 | |
尺寸 | 4英寸/6英寸 |
水平旋轉(zhuǎn) | 可360°旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15°，精度0.1°，帶角度鎖死裝置 |
X-Y移動(dòng)行程 | 4英寸×4英寸 |
X-Y移動(dòng)精度 | 10μm |
樣品臺(tái)Z軸調(diào)節(jié) | 可升降10mm |
樣品固定 | 真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán) |
針座平臺(tái) | U型針座平臺(tái)，**可放置6個(gè)探針座 |
背電極測(cè)試 | 樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm插孔可接背電極 |
外形尺寸 | 400mm長(zhǎng)*400mm寬*500mm高 |
設(shè)備重量 | 約20KG |
光學(xué)系統(tǒng) | |
顯微鏡類(lèi)型 | 單筒顯微鏡/體式顯微鏡 |
放大倍率 | 16X-200X |
移動(dòng)行程 | 水平方向繞立柱360°旋轉(zhuǎn)，Z軸50.8毫米 |
光源 | 外置LED無(wú)極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源 |
CCD | 200萬(wàn)像素/500萬(wàn)像素/1200萬(wàn)像素 |
定位器 | |
X-Y-Z移動(dòng)行程 | 12mm*12mm*12mm |
移動(dòng)精度 | 10μm/2μm/0.7μm/0.5μm |
吸附方式 | 磁力吸附，真空吸附 |
線(xiàn)纜 | 同軸線(xiàn)/三軸線(xiàn) |
漏電精度 | 10pA/100fA/10fA |
固定探針 | 彈簧固定/管狀固定 |
接頭類(lèi)型 | BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚(yú)夾/接線(xiàn)端子 |
針尖直徑 | 0.2μm/1μm/2μm/5μm/10μm/20μm |
針尖材質(zhì) | 鎢鋼；鈹銅 |
可選附件：
加熱臺(tái)；
顯示器；
轉(zhuǎn)接頭；
射頻測(cè)試配件；
屏蔽箱；
光學(xué)平臺(tái)；
鍍金卡盤(pán)；
光電測(cè)試配件；
探針臺(tái)可根據(jù)客戶(hù)要求定制
公司主營(yíng)產(chǎn)品：
幾大系列：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
半導(dǎo)體封裝材料小型探針臺(tái)I-V測(cè)試系統(tǒng)
半導(dǎo)體封裝材料小型探針臺(tái)I-V測(cè)試系統(tǒng)
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